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X射线检测装置


X射线检测装置




釆用X射线管通过铅筒约束X射线照射被测物体,通过探测器转化数字化X线成像。其基本结构为表面是一层闪烁体材料,再下一层是以非晶体硅为材料的光电二极管电路,最底层为电荷读出电路 ,位于探测器表面的闪烁体将透过物体后衰减的X线转换为可见光。闪烁体下的非晶硅光电二极管阵列又将可见光转换为电信号,在光电二极管自身的电容上形成存储电荷,每个像素的存储电荷量与入射X线强度成正比。在控制电路的作用下,收集数据信息扫描读出各个像素的存储电荷,经A/D转换后输出数字信号,传送给计算机软件进行数据图像处理从而形成X射线数字数据,再进行被测物体的孔径测量,微观形态分析等。















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